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BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀

產(chǎn)品介紹


BeNano 180 Zeta Max 納米粒度及Zeta電位儀是丹東百特儀器有限公司2024年最新推出的表征納米體系特性的頂級光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS、靜態(tài)光散射SLS以及透射光檢測技術(shù),可以準(zhǔn)確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta電位,高分子和蛋白體系的分子量、液體的折射率、以及顆粒物濃度信息等等參數(shù),可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途。


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基本性能指標(biāo)


粒徑檢測(動態(tài)光散射法)

  粒徑范圍  0.3 nm – 15 μm
  最小樣品量  3 μL
  檢測角度  173 °+90 ° + 12°
  分析算法  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

沉降法粒度測試

  檢測方法  沉降法
  粒徑范圍  1μm-50μm
  檢測角度 
  樣品量  1-3ml

Zate電位測試

  檢測角度  12°
  Zeta范圍  無實(shí)際限制
  電泳遷移率范圍  > ±20 μ.cm/V.s
  電導(dǎo)率范圍  0 - 260 mS/cm
  Zeta測試粒徑范圍  2 nm – >120 μm  

分子量測試

  分子量范圍  342 Da – 2 x 107 Da

微流變測試

  測試能力  均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span>

趨勢測試

  模式  時(shí)間和溫度

濃度檢測

  檢測方法  LEDLS
  測試能力  體積分?jǐn)?shù)和數(shù)量濃度

折光率測試

  檢測方法  楔形池樣品折射(無需示蹤粒子)
  檢測角度  0°
  RI范圍  1.2-1.6
  精度  優(yōu)于0.1%
  最小樣品量  380 μL

系統(tǒng)參數(shù)

  溫控范圍  -15°C - 120°C
  冷凝控制  干燥空氣或者氮?dú)?/span>
  相關(guān)器  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm
  電泳遷移率范圍  快、中、慢多模式,最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態(tài)線性范圍
  檢測器  APD (高性能雪崩光電二極管)+PD+CMOS
  光強(qiáng)控制  0.0001%  - 100%,手動或者自動    



檢測參數(shù)


動態(tài)光散射

●流體力學(xué)尺寸 Dh

●分布系數(shù) PD.I

●擴(kuò)散系數(shù) D

●顆粒間相互作用力因子 kd

●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

●計(jì)算分子量

●溶液粘度和折射率

●流變學(xué)信息G*,G‘,G“,η*,J


電泳光散射

●Zeta電位及其分布

●帶電顆粒的電泳遷移率


透射

●透射濁度

● 顆粒物濃度

●液體折射率

●沉降法粒度和粒度分布測試


趨勢測試

● Zeta電位和粒徑的pH滴定

● 粒徑和Zeta電位的溫度趨勢測試


靜態(tài)光散射

● 絕對分子量Mn、Mw、Mz

● 分子量分布

● 第二維利系數(shù)A2



選配件


動靜態(tài)流動模式

BeNano動靜態(tài)流動模式(Flow Mode)是將納米粒度及Zeta電位儀同一個(gè)分離前端(FFF、GPC/SEC)相連接。分離前端可以根據(jù)尺寸將樣品進(jìn)行分離,依次流出。通過檢測每個(gè)流出組分的動態(tài)光散射信號和靜態(tài)光散射號,并結(jié)合分離前端的示差折光RI或者紫外UV信號,得到高分辨率且不依賴于計(jì)算模型的粒徑分布、分子量分布信息。

 

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BAT-1自動滴定儀

樣品的Zeta電位和粒徑對于分散液介質(zhì)環(huán)境具有強(qiáng)烈的依賴性,尤其是環(huán)境pH,不但影響Zeta電位的大小,而且會影響顆粒體系的帶電符號。BAT-1自動滴定儀與BeNano系列連用,內(nèi)置三個(gè)高精度滴定泵和一個(gè)樣品輸送泵,具有樣品攪拌能力,可以對于樣品的粒徑和Zeta電位進(jìn)行自動化的酸堿滴定測試,具有測試效率高、精確定量、重復(fù)性好、結(jié)果不依賴于操作者等特點(diǎn)。由于盛放樣品的樣品管可拋棄,避免了交叉污染的風(fēng)險(xiǎn)。

 

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BeScan穩(wěn)定性分析儀

BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化,并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化,從而極大的節(jié)約檢測時(shí)間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

 

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相關(guān)技術(shù)    


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